| E+H雷达物位计FMR250雷达物位计厂家过程压力可达40bar,过程温度可达220℃,分辨率1mm,无盲区,高精度,两线制技术,是差压仪表、磁致伸缩、射频导纳、磁翻板仪表的优良替代产品。雷达物位计厂家测量灵敏,刷新速度快,安装简便,牢固耐用,免维护,采用微波脉冲的测量方法,并可在工业频率波段范围内正常工作。波束能量较低,可安装于各种金属、非金属容器或管道内,对人体及环境均无损害。
 E+H雷达物位计FMR250 雷达物位计厂家低强度电磁脉冲以纳秒级宽度被发射并沿着刚性或柔性的导体以光速行进,当脉冲接触到介质表面时被反射,反射信号被仪表接收,发射脉冲与接收脉冲的时间间隔与基准面到被测介质表面的距离成正比。雷达物位计厂家通过测量发射与接收的时间间隔,来实现基准面至被测介质表面距离的测量。
 技术资料智能型微波物位仪(雷达)
 MicropilotMFMR230/231/240/244/245
 用于连续、非接触式物位测量的智能变送器采用经济的4...20mA、两线制技术适用于防爆场合
 应用
 MicropilotM可用于对液体、浆料、淤泥和固料进行连续、非接触式物位测量。测量不受介质改变、温度变化、气层或蒸汽的影响。
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 FMR230—特别适用于缓冲罐和过程罐的物位测量
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 FMR231—用于需强化学品质适应性的测量场合
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 FMR240—小喇叭天线(40mm)的FMR240特别适用于小容器中的物位测量,测量精度可达±3mm
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 FMR244—带喇叭天线,具有强抗腐蚀能力
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 FMR245—抗腐蚀能力强,测量温度高达200℃,易于清洗
 优点
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 经济的两线制技术:差压仪表和平衡浮子的优良替代品。两线制技术有效地降低了布线成本,且易于实现与现有系统的兼容
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 非接触式测量方法:测量不受介质特性的影响
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 通过数文引导式菜单轻松进行现场操作
 ·使用Endress+Hauser
 的操作软件易于进行仪表的组态设置、文件编制及故障诊断
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 具备两个工作频率波段,适用于任何应用场合C波段—FMR230/FMR231K波段—FMR240/FMR244/FMR245
 ·具有HART
 、PROFIBUSPA及基金会现场总线(FF)通信协议
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 高温型雷达:适用于过程温度高达+200℃的测量场合,采用高温天线时过程温度可达+400℃
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 带屏蔽段的杆式天线:可在小管径安装短管及有冷凝和粘附的安装短管内进行可靠测量
 ·系统安全性符合IEC
 61508/IEC61511-1标准的要求,通过了SIL2认证
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 FMR230/231/240/245可选气密保护功能,以提升测量过程的安全性
 雷达物位计
 E+H雷达物位计FMR130
 E+H雷达物位计FMR131
 E+H雷达物位计FMR230
 E+H雷达物位计FMR231
 E+H雷达物位计FMR240
 E+H雷达物位计FMR244
 E+H雷达物位计FMR245
 E+H雷达物位计FMR250
 E+H雷达物位计FMR530
 E+H雷达物位计FMR531
 E+H雷达物位计FMR532
 E+H雷达物位计FMR533
 E+H超声波物位计
 E+H超声波物位计FDU91...96
 E+H超声波物位计FMU230/231
 E+H超声波物位计FMU40/41/42/43
 E+H超声波物位计FMU90
 E+H超声波物位计FTU230/231
 E+H导波雷达物位计
 E+H导波雷达物位计FMP40
 E+H导波雷达物位计FMP41C
 E+H导波雷达物位计FMP45
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